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掃描電鏡中STEM透射模式的應(yīng)用透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV)，對(duì)于有機(jī)高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強(qiáng)，形成的透射像襯度低，而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV)，因此應(yīng)用其STEM模式成透射像，可大大提高像的襯度。有機(jī)太陽(yáng)能電池用的高分子/富勒烯薄膜(有機(jī)固體實(shí)驗(yàn)室樣品)的透射電子像，在用透射電鏡觀察其分相結(jié)構(gòu)時(shí)，由于兩部分襯度都低，因此幾乎無(wú)法區(qū)分，而應(yīng)用掃描電鏡的STEM模式觀察時(shí)，可清楚地觀察到兩相的結(jié)構(gòu)。應(yīng)用透射電鏡觀察生物樣品時(shí)...

掃描電子顯微鏡SEM的基本知識(shí)，一定要了解在材料領(lǐng)域中，掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著極其重要的作用，被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過(guò)程，可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實(shí)邊界，也可以觀察在不同條件下邊界移動(dòng)的方式，還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。掃描電鏡的結(jié)構(gòu)及主要性能掃描電鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分。鏡體部分由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集和顯示系統(tǒng)以及真空抽氣...

掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年發(fā)明的細(xì)胞生物學(xué)研究工具，主要是利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來(lái)的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。一.原理：如果入射電子撞擊樣品表面原子的外層電子，把它激發(fā)出來(lái)，就形成低能量的二次電子，在電廠的作用下它可呈曲線運(yùn)動(dòng)，翻越障礙進(jìn)入檢測(cè)器，使表面凹凸的各個(gè)部分都...

掃描電鏡的放大倍數(shù)像素大小和標(biāo)尺顯微鏡把原先的物體放大成圖像便于我們觀察，物與像的尺寸關(guān)系可通過(guò)放大倍數(shù)來(lái)衡量。放大率或者放大倍數(shù)(Magnification)，被定義為像寬度L與物寬度l的比值，即：M=L/l(1-1)在掃描電鏡中，一端是電子束在樣品表面l范圍內(nèi)掃描，另一端是信號(hào)在顯示器上顯示寬度為L(zhǎng)的像，如圖1-2所示的對(duì)應(yīng)關(guān)系。通常電鏡顯示器上圖像的寬度L是固定的，所以往往通過(guò)調(diào)節(jié)物的尺寸l來(lái)改變放大倍數(shù)。尺寸l越大，可以觀察到的范圍(即視場(chǎng))越大，而放大倍數(shù)越小，這樣...

掃描電鏡的成像原理及附件能譜儀掃描電鏡由電子槍發(fā)射出來(lái)的電子束，在加速電壓的作用下，經(jīng)過(guò)磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成直徑為5nm，經(jīng)過(guò)二至三個(gè)電磁透鏡所組成的電子光學(xué)系統(tǒng)，電子束會(huì)聚成一個(gè)細(xì)的電子束聚焦在樣品表面。在末級(jí)透鏡上邊裝有掃描線圈，在它的作用下使電子束在樣品表面掃描。由于高能電子束與樣品物質(zhì)的交互作用，結(jié)果產(chǎn)生了各種信息：二次電子、背反射電子、吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光和透射電子等。這些信號(hào)被相應(yīng)的接收器接收，經(jīng)放大后送到顯像管的柵極上，調(diào)制顯像管的亮度。由于經(jīng)過(guò)...